Maud

做材料的都绕不开这一步：一张 XRD 谱图拿到手，要定物相、算含量、拟晶粒尺寸和应变，还想看织构——商业软件一套一套买，免费的又各管一段。

MAUD（Materials Analysis Using Diffraction）把这些放进一个 Rietveld 精修里做：用一个统一模型拟合整张谱图，同时得到物相组成、晶体结构、微观结构（尺寸、应变）、晶体学织构和面缺陷。X 射线、中子、电子数据都能喂，衍射之外还支持反射率和荧光谱。非晶和纳米材料也在适用范围内。

Java 写的，安装包自带运行时，Windows、macOS、Linux 都有。免费使用，源码在 GitHub 上，作者是 Luca Lutterotti。

软件功能

Rietveld 精修：全谱拟合，一次精修同时输出物相含量、晶胞参数、原子位置。

微观结构分析：晶粒尺寸和微观应变，各向异性模型可选。

织构与残余应力：定量织构分析（ODF）和残余应力计算，处理多张不同取向的谱图。

多种数据源：X 射线、中子、TOF、TEM 电子衍射，以及反射率和荧光数据。

自带示例：装好就有样例数据集和教程，照着跑一遍再上自己的数据。

可视化：拟合曲线、残差、二维图和各相的衍射峰位置在同一界面里对照。